SU8700 FE-SEM z gorącą katodą można skonfigurować z trybem zmiennego ciśnienia lub bez niego. Emiter Schottky'ego zapewnia wyjątkową rozdzielczość i szybką mikroanalizę. Kolumna elektronowa zawiera wzmacniacz sygnału oraz różne detektory elektronów, umożliwiając uzyskanie gwarantowanej subnanometrowej rozdzielczości. SU8700 pozwala dostosować urządzenie do różnych potrzeb laboratoryjnych. Prąd sondy osiąga ponad 200 nA i jest regulowany płynnie w całym dostępnym zakresie. Komora mikroskopu jest zaprojektowana tak, by jednocześnie pomieścić liczne urządzenia dodatkowe, takie jak systemy airlock, EDS, WDS, EBSD oraz stolik Cryo.

• rozdzielczość – 0.8nm przy 15kV, 0.9nm przy 1kV,
• powiększenie –20x to 2 000 000x,
• emiter – Schottky'ego z gorącą emisją (FEG),
• napięcie przyspieszające – od 0.5 kV do 30 kV,
• landing voltage – od 0.01kV do 7kV
• prąd wiązki – max 200nA
• tryb zmiennego ciśnienia – od 5 do 300 Pa,
• detektory – wewnątrz kolumnowy detektor elektronów wtórnych (UD) i wstecznie rozproszonych (MD); detektor elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych (LD); 5 - segmentowy półprzewodnikowy detektor elektronów rozpraszanych wstecznie (PD-BSED) o wysokiej czułości; opcjonalni: wysokoczuły detektor zmiennego ciśnienia (UVD-II), STEM detektor, EDS, EBSD,
• stolik – napęd silnikowy w 5-ciu osiach (X/Y/R/Z/T),
• maksymalny rozmiar próbki – średnica 150 mm, grubość do 36 mm,
• maksymalna masa próbki – do 300g
• zapisywanie obrazów – 640×480,1.280×960, 2.560×1.920, 5.120×3.840, 10.240×7.680, 20.480×15.360, 40.960×30.720 pixele,
• funkcje automatyczne – automatyczna regulacja jasności i kontrastu (ABCC), automatyczna kontrola ostrości (AFC), automatyczna kontrola astygmatyzmu i ostrości (ASFC), auto start (HV-ON→ABCC→AFC), automatyczna regulacja osi optycznej,
• zintegrowana kamera nawigacyjna
• kompatybilność z uchwytem Air Protection