GD-Profiler 2 firmy HORIBA Scientific to flagowy model spektrometru emisyjnego ze wzbudzeniem w wyładowaniu jarzeniowym (GDOES), zaprojektowany z myślą o najbardziej wymagających zadaniach z zakresu profilowania głębokościowego i analizy składu chemicznego. Urządzenie to łączy w sobie szybkość, wszechstronność oraz niezwykłą precyzję, stanowiąc idealne narzędzie zarówno dla działów kontroli jakości, jak i laboratoriów badawczych (R&D).

Przełomowa Technologia Radio Frequency (RF)

Sercem GD-Profiler 2 jest unikalne, opatentowane źródło wzbudzenia Radio Frequency (RF). W przeciwieństwie do tradycyjnych źródeł prądu stałego (DC), technologia RF pozwala na analizę nie tylko materiałów przewodzących, ale również izolatorów, półprzewodników i warstw kompozytowych. System automatycznie dopasowuje parametry wzbudzenia, co gwarantuje stabilność plazmy i równomierne rozpylanie próbki, niezależnie od jej rodzaju.

Kluczowe parametry techniczne i zalety:

• Analiza pierwiastków lekkich: Dzięki optyce próżniowej i wysokiej czułości, system doskonale radzi sobie z detekcją wodoru (H), tlenu (O), azotu (N) oraz węgla (C), co jest kluczowe przy badaniu procesów azotowania, utleniania czy zanieczyszczeń powierzchniowych.
• Szeroki zakres analityczny: Urządzenie umożliwia analizę warstw o grubości od zaledwie 1 nm do ponad 100 µm. Jest to szczególnie istotne w przemyśle produkującym powłoki, gdzie precyzyjne określenie grubości i składu warstw decyduje o trwałości produktu.
• Szybkość pomiaru: GD-Profiler 2 dostarcza pełny profil głębokościowy w czasie rzeczywistym. Analiza, która w innych technikach (jak XPS czy SIMS) trwałaby godziny, tutaj zostaje wykonana w kilka minut.
• Detektory HDD (High Dynamic Detectors): Zastosowanie nowoczesnych fotopowielaczy o szerokim zakresie dynamiki pozwala na jednoczesny pomiar pierwiastków występujących w śladach (ppm), jak i tych stanowiących osnowę materiału (100%).

Obszar zastosowań

GD-Profiler 2 znajduje szerokie zastosowanie w sektorach wysokich technologii. W branży fotowoltaicznej służy do optymalizacji warstw cienkowarstwowych ogniw, w mikroelektronice do weryfikacji osadzeń na podłożach krzemowych, a w przemyśle motoryzacyjnym do badania powłok antykorozyjnych i procesów obróbki cieplno-chemicznej metali.

Dzięki intuicyjnemu oprogramowaniu Quantum, użytkownik ma pełną kontrolę nad procesem kalibracji i akwizycji danych, co przekłada się na powtarzalne wyniki i krótki czas wdrożenia personelu do pracy z urządzeniem. GD-Profiler 2 to inwestycja w najwyższą jakość analizy warstw powierzchniowych.