Menu

Karta produktu

Pobierz dokument

przykładowe dostępne produkty producenta

Elipsometria spektroskopowa

Najbardziej odpowiednia technika do charakteryzacji cienkich warstw

Czytaj więcej
Siatki dyfrakcyjne dla przemysłu OEM i badań naukowych

Siatki dyfrakcyjne i rozwiązania spektroskopowe

Czytaj więcej
Analizator wielkości cząstek Partica mini LA-350

Kompaktowy analizator wielkości cząstek o wysokiej wydajności, pracujący w zakresie 0,1 – 1000 µm.

Czytaj więcej
Partica - pomiar rozkładu wielkości i kształtu cząstek

Przełomowy system typu „wszystko w jednym”, łączący klasyczną dyfrakcję laserową z dynamiczną analizą obrazu. Urządzenie pozwala na jednoczesny pomiar rozkładu wielkości cząstek oraz ich morfologii (kształtu).

Czytaj więcej
Zobacz wszystkie produkty HORIBA Scientific
Twoja prywatność

Ta strona używa ciasteczek (cookies). Możesz zmienić ustawienia przechowywania plików cookies w Twojej przeglądarce.
[ Dowiedz się więcej ]

Akceptuję