System topografii BSE
System topografii BSE pozwala na wykonywanie na żywo skalibrowanych pomiarów wysokości na szerokiej gamie próbek, zwiększając dokładność analizy powierzchni. Dzięki zaawansowanym możliwościom użytkownicy mogą:
- Dokładnie mierzyć wysokości powierzchni,
- Rozróżniać między zmianami topograficznymi a kompozycyjnymi,
- Monitorować zmiany powierzchni w czasie rzeczywistym podczas eksperymentów in-situ,
- Wizualizować złożone struktury powierzchni w 3D,
- Płynnie przechodzić od pomiarów topografii na żywo do analizy offline, zapewniając większą elastyczność badawczą.
Zapewniając wszechstronność i precyzję, system topografii BSE pozwala badaczom uzyskać głębsze wglądy w powierzchnie próbek z niezrównaną klarownością i kontrolą.
Pomiar wysokości w czasie rzeczywistym i skalibrowany z użyciem SEM lub FIB-SEM:
- Rekonstrukcja wysokości powierzchni w czasie rzeczywistym na podstawie sygnałów BSE,
- Wbudowane narzędzie do wizualizacji powierzchni w 3D,
- Konfigurowalne przepływy pracy z zintegrowanymi profilami skanowania SE i BSE,
- Zautomatyzowana kalibracja 3D.
- point electronic
- Analiza składu chemicznego
- Obrazowanie powierzchni i struktury wewnętrznej
- Nowe życie systemów i urządzeń
Kontakt
dr Sergij CHUSNUTDINOW
Karta produktu
Pobierz dokument
przykładowe dostępne produkty producenta
Wysokotemperaturowy detektor BSE
Wysokotemperaturowy detektor BSE firmy point electronic GmbH to oparty na elektrodach 4Q detektor z wbudowanym polaryzowaniem do wysokotemperaturowej mikroskopii in-situ.
Detektor Premium BSE
Detektor Premium BSE to wysokowydajny detektor ilościowy na bazie krzemu firmy point electronic GmbH do zastosowań materiałowych, geologicznych i przemysłowych.
System topografii BSE
System topografii BSE firmy point electronic to nowoczesne rozwiązanie do analizy cech powierzchni na poziomie mikro- i nanoskali.
System Analizy Elektrycznej dla TEM
System Analizy Elektrycznej dla transmisyjnych mikroskopów elektronowych (TEM) oferuje płynną integrację z pełną kontrolą oprogramowania i jest kompatybilny ze wszystkimi mikroskopami TEM wyposażonymi w zewnętrzny interfejs skanowania
