Skaningowy mikroskop elektronowy wyposażony w źródło elektronów typu Schottky’ego z emisją polową (FE). Mikroskop ten zapewnia niezwykle precyzyjne obrazy, idealne do zaawansowanych analiz strukturalnych i materiałowych. Platforma obsługuje próbki o masie do 5kg (SU3900SE/SE Plus), poruszając się we wszystkich pięciu osiach. Dzięki funkcji zmiennego ciśnienia sprawdza się zarówno w badaniach konwencjonalnych, jak i w obrazowaniu próbek o ograniczonej przewodności, eliminując konieczność specjalistycznego przygotowywania próbek.

• rozdzielczość – 0,9nm przy 30kV, 2.5nm przy 1kV, 1,6nm przy 1kV (model SE Plus),
• powiększenie – x5 to x600 000,
• emiter – ZrO/W Schottkey,
• napięcie przyspieszające – od 0.50kV do 30.00kV (z krokiem 0.01kV),
• landing voltage – 0.1kV do 2kV,
• prąd wiązki elektronów – do 150nA,
• tryb zmiennego ciśnienia – od 6 do 150Pa,
• detektory – detektor elektronów wtórny (SE) do wysokiej próżni; 5 - segmentowy półprzewodnikowy detektor elektronów rozpraszanych wstecznie (BSED) o wysokiej czułości; opcjonalnie: TOP detektor (model SE Plus), precyzyjny detektor zmiennego ciśnienia (UVD), spektrometr rentgenowski z dyspersją energii (EDS), detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD),
• stolik – napęd silnikowy w 5-ciu osiach (X/Y/R/Z/T),
• maksymalny rozmiar próbki:
• SU3800SE – średnica: 200mm, grubość do 80mm,
• SU3900SE – średnica: 300mm, grubość do 130mm,
• maksymalna masa próbki  – do 2kg (SU3800SE), do 5kg (SU3900SE)
• zapisywanie obrazów – 640×480,1.280×960,2.560×1.920,5.120×3.840 pixele,
• funkcje automatyczne – automatyczna regulacja jasności i kontrastu (ABCC), automatyczna kontrola ostrości (AFC), automatyczna kontrola astygmatyzmu i ostrości (ASFC), auto start (HV-ON→ABCC→AFC), automatyczna regulacja osi optycznej
• zintegrowana kamera nawigacyjna