Sensofar S Wide to zaawansowany profilometr optyczny zaprojektowany do szybkiego, bezkontaktowego pomiaru topografii powierzchni, łączący mikrometryczną precyzję z szerokim polem pomiarowym. Dzięki nowoczesnym technologiom optycznym, urządzenie umożliwia dokładną charakterystykę powierzchni materiałów o różnych właściwościach i rozmiarach, bez ryzyka ich uszkodzenia.

Kluczowe cechy:

• Szerokie pole pomiarowe – idealne do analizy dużych komponentów przemysłowych lub próbek laboratoryjnych
• Bezkontaktowa technologia – chroni delikatne materiały i przyspiesza proces pomiaru
• Wysoka rozdzielczość i dokładność – umożliwia analizę mikroskopijnych defektów i struktury powierzchni
• Intuicyjne oprogramowanie – szybkie generowanie raportów, analiza chropowatości, falistości i innych parametrów powierzchni zgodna z normami ISO
• Wszechstronność – łatwa integracja w laboratoriach badawczych, zakładach produkcyjnych i na stanowiskach kontroli jakości.

Przykładowe aplikacje:

• Przemysł motoryzacyjny i lotniczy – kontrola powierzchni elementów mechanicznych, tłoków, łożysk czy łopatek turbin.
• Elektronika i półprzewodniki – analiza powierzchni waferów, układów scalonych i mikrostruktur
• Biomateriały i medycyna – badania tekstury implantów, protez i innych materiałów medycznych.
• Badania materiałowe i naukowe – ocena chropowatości, topografii i właściwości powierzchni nowych materiałów.
• Kontrola jakości w produkcji precyzyjnej – szybkie wykrywanie mikroskopijnych defektów i zapewnienie powtarzalności procesów.