Platforma AFM umożliwia w pełni zintegrowane wykorzystanie konfokalnej mikroskopii Ramana i AFM do spektroskopii optycznej ze wzmocnieniem „tipem” (takiej jak Tip-Enhanced Optical Spectroscopy (TERS) i Tip-Enhanced PhotoLuminescence (TEPL)).

Niezliczone techniki AFM, które umożliwiają badanie właściwości topograficznych, elektrycznych i mechanicznych, mogą być wykonywane razem z dowolnym źródłem laserowym dostępnym w spektrometrze Ramana lub innym zewnętrznym oświetleniem (np. symulatorem światła słonecznego lub innym przestrajalnym lub ciągłym źródłem). TERS i TEPL mogą dostarczać informacji chemicznych i strukturalnych w nanoskali, czyniąc platformę AFM-Raman systemem dwukierunkowym, na którym uzupełniające się techniki zapewniają sobie nawzajem nowe i unikalne możliwości obrazowania.

Oferowane modele mikroskopów sił atomowych:

• SignatureSPM
• SmartSPM
• OmegaScope
• TRIOS
• Spektrometry NanoRaman