IM4000II
IM4000 II to modułowy, sterowany komputerowo system frezowania oraz polerowania jonami argonu. Zakres energii wiązki, regulowany co 100 eV od 0,1 keV do 6,0 keV, umożliwia wszechstronne zastosowania, od precyzyjnego polerowania różnego rodzaju powierzchni po obróbkę dużych przekrojów.
Cechy:
- Duża szybkość frezowania: Prędkość ≥ 500 µm/h. Efektywne dla twardych materiałów, gdzie zmiana kąta wychylenia wpływa na szerokość i głębokość obróbki.
- Frezowanie przekroju poprzecznego: Płaska, gładka powierzchnia dzięki wiązce jonów równoległej do próbki. Odpowiednie dla złożonych materiałów o różnym składzie. Dla standardowych próbek o szerokości do 20 mm, głębokości 12 mm i wysokości 8 mm. Opcjonalny uchwyt dla większych próbek o szerokości do 35 mm, głębokości 17 mm i wysokości 8 mm.
- Frezowanie płaskie: Odpowiednie dla próbek o średnicy do 50 mm i wysokości do 25 mm. Obróbka większego obszaru dzięki mimośrodowej wiązce i rotacji próbki. Regulacja kąta bombardowania ujawnia orientację kryształów i różnice w składzie.
Opcje:
- Kontrola temperatury chłodzenia: Użycie ciekłego azotu stabilizuje próbki wrażliwe na ciepło, zapobiegając przemianom fazowym.
- Uchwyt Air Protection: Chroni próbki przed działaniem powietrza, umożliwiając transfer do SEM lub AFM bez ekspozycji na środowisko. Kompatybilny z systemami Hitachi High-Tech.
- Mikroskop stereoskopowy: Umożliwia obserwację frezowania w czasie rzeczywistym; wersje binokularowe i trinokularowe z opcją przesyłu obrazu na monitor.
- Hitachi High-Tech
- Analiza składu chemicznego
- Obrazowanie powierzchni i struktury wewnętrznej
Kontakt
Karta produktu
przykładowe dostępne produkty producenta
FlexSEM II
Kompaktowy skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) do obrazowania i analizy chemicznej przewyższający możliwości konwencjonalnych SEM-ów stołowych z funkcją „niskiej próżni”
SU8600
SU8600 wprowadza nową erę skaningowych mikroskopów elektronowych o ultra-wysokiej rozdzielczości z zimną emisją polową (CFE).
ZONETEMII
Innowacyjny urządzenie do czyszczenia próbek ZONETEM II wykorzystuje technologię czyszczenia opartą na promieniowaniu UV w celu zminimalizowania lub wyeliminowania zanieczyszczeń węglowodorowych podczas obrazowania mikroskopem elektronowym.
SU9000II
SU9000II to nowy mikroskop SEM klasy premium firmy HITACHI. Wyposażony jest w unikalną optykę elektronową, w której próbka umieszczona jest w szczelinie między górną i dolną częścią elementu biegunowego soczewki obiektywu.
