Skaningowy mikroskop elektronowy o ultra wysokiej rozdzielczości SU9000

Źródło zimnej emisji polowej (CFE) jest idealne do obrazowania w wysokiej rozdzielczości przy niewielkich rozmiarach źródła i rozpiętości energii. Innowacyjna technologia CFE Gun przyczynia się do powstania najlepszego FE-SEM z doskonałą jasnością i stabilnością wiązki, umożliwiając obrazowanie w wysokiej rozdzielczości oraz wysokiej jakości analizę pierwiastkową. Unikalna konstrukcja obiektywu pozwala na badania EELS i dyfrakcyjne.

Cechy:

• Ultra wysoka rozdzielczość – SU9000 osiąga rozdzielczość 0.4 nm przy napięciu 30kV,
• Praktycznie wykorzystywane powiększenie do 3,000,000x,
• Nowe działo CFE – niezwykle wysoka jasność oraz bardzo wysoka stabilność prądu wiązki
• Doskonała wydajność przy niskim napięciu przyśpieszającym do obserwacji materiałów wrażliwych na wiązkę elektronową,
• Kolejna generacja optyki Hitachi In-Lens SEM – pozwala na rutynową obserwację próbek z powiększeniem rzędu 1,000,000x,
• Ulepszony system UHV – pozwala na uzyskiwanie bardzo wysokiej próżni ograniczając w ten sposób kontaminacje próbki,
• Zaawansowana technicznie obudowa mikroskopu – charakteryzuje się zarówno doskonałą wytrzymałością, jak i stabilnością, co pozwala na obrazowanie w wysokiej rozdzielczości w szerokim zakresie warunków środowiskowych,
• System wymiany próbek z boczną śluzą – zwiększa przepustowość dzięki skróceniu czasu potrzebnego na wymianę oraz automatycznemu pozycjonowaniu próbki w aktualnym WD (working distance),
• Kompatybilność z uchwytem Air Protection – możliwość wykonania frezowania jonowego w systemach Hitachi IM4000II i przeniesienia próbki bezpośrednio do mikroskopu bez ekspozycji na środowisko zewnętrzne,
• Uchwyt kriogeniczny – pozwala na badanie próbek biologicznych oraz farmaceutycznych

Więcej informacji można znaleźć na stronie producenta.