Usprawnia mikroskopię optyczną pola bliskiego, zapewniając:

• Pełną charakterystykę tłumienności fali (wave-attenuation), profilu modów (mode-profile) i dyspersji poprzez amplitudowo- i fazowo-rozdzielcze wykrywanie lokalnych pól elektromagnetycznych,
• Gwarantowane działanie w całym zakresie widma widzialnego dzięki opatentowanej, w stu procentach pozbawionej tła, technologii detekcji oraz ultrastabilnej, pozbawionej aberracji regulacji ostrości,
• Obejmowanie całego zakresu zastosowań plazmoniki dzięki elastycznym opcjom oświetlania, detekcji i ogniskowania na próbce lub igle pomiarowej.

VIS-neaSCOPE^+s - umożliwia mapowanie pola bliskiego (polarization-resolved near-field mapping) lokalnych, złożonych pól elektromagnetycznych (amplitudy i fazy)

VIS-neaSCOPE^+s został zoptymalizowany pod kątem amplitudowo- i fazowo-rozdzielczego mapowania pola wektorowego (vector field mapping) w zakresie światła widzialnego. Wykorzystuje technologie s-SNOM do obrazowania i spektroskopii pola bliskiego nanostruktur plazmonicznych i struktur falowodowych. VIS-neaSCOPE^+s zapewnia najbardziej elastyczną konfigurację drogi optycznej wiązki, umożliwiającą pomiary polaryzacji (polarization-resolved), oświetlenie boczne i dolne zsynchronizowane z ruchem próbki. Może zostać rozbudowany o funkcje IR i TERS.