Zaawansowany model do obrazowania w podczerwieni (IR imaging) w nanoskali oraz spektroskopii nano-FTIR (nano-FTIR spectroscopy):

• Umożliwia badanie różnych materiałów dzięki jednoczesnemu pomiarowi absorpcji i odbicia,
• Wykorzystuje najszybsze i najbardziej niezawodne obrazowanie i spektroskopię s-SNOM (s-SNOM imaging and spectroscopy),
• Dzięki połączeniu konstrukcji „multi-port” drogi optycznej wiązki, umożliwia różne konfiguracje (nano-FTIR, transmisja, oświetlenie dolne, fotoprąd...).

IR-neaSCOPE^+s – umożliwia obrazowanie w podczerwieni (IR imaging) w nanoskali oraz spektroskopię nano-FTIR (nano-FTIR spectroscopy) poprzez wykrywanie światła rozproszonego na standardowej igle AFM

IR-neaSCOPE^+s służy do pełnej analizy chemicznej i mapowania pola z rozdzielczością przestrzenną 10 nm. Wykorzystuje technologie mikroskopii pola bliskiego do pomiaru absorpcji i odbicia promieniowania podczerwonego, a także amplitudy i fazy lokalnych pól elektromagnetycznych. Umożliwia obrazowanie w podczerwieni (IR imaging) w nanoskali, spektroskopię punktową i analizę hiperspektralną przy użyciu źródeł światła CW, jak również spektroskopię nano-FTIR przy użyciu laserów szerokopasmowych i źródeł synchrotronowych. IR-neaSCOPE^+s sprawdza się zarówno w analizie materiałów organicznych, jak i nieorganicznych, zapewniając szeroki zakres zastosowań oraz najnowsze technologie pola bliskiego, takie jak ilościowe pomiary s-SNOM lub pomiary podpowierzchniowe.