OFERTA

Hitachi 3D MAP

Producent Hitachi High Technologies
Aplikacja: Tworzywa sztuczne, Półprzewodniki, Optoelektronika, Medycyna i inżynieria biomedyczna, Inżynieria materiałowa, Geologia, Charakterystyka powierzchni / Inżynieria powierzchni, Biologia,
Kategoria: Mikroskopy AFM/SPM, Mikroskopia TEM, Mikroskopia STEM, Mikroskopia SEM, Mikroanaliza EDS/WDS/EBSD,

Najnowsze oprogramowanie Hitachi Map 3D, dedykowane mikroskopii elektronowej, generuje trójwymiarowe obrazy bez konieczności przechylania próbki lub przesuwania obrazu. Rejestruje wszystkie cztery obrazy kierunkowe jednocześnie z obrazowaniem, za pomocą szybkiego, cztero-segmentowego detektora elektronów wstecznie rozproszonych (BSE). Oprogramowanie automatycznie zbiera dane z powierzchni próbki lub profilu jej przekroju, wykonując analizę chropowatości powierzchni oraz wysokości struktur. Ponadto, umożliwia pomiar pomiędzy dwoma dowolnie wybranymi punktami.

Cechy Hitachi Map 3D:

  • bezpośrednia edycja na przyjaznym użytkownikowi interfejsie,
  • wyświetlanie profilu przekroju na mapie 3D z dowolnie wybranych punktów,
  • możliwość pomiarów wysokości i kąta na zdefiniowanym przez użytkownika profilu liniowym,
  • analiza odległości, wysokości, nachylenia w osiach X, Y i Z pomiędzy dwoma punktami na powierzchni lub przekroju 3D,
  • możliwość wyboru pomiędzy licznymi trybami renderowania 3D oraz zapisywania animacji jako filmów,
  • możliwość wykonania pomiarów chropowatości liniowego profilu powierzchni, na dowolnym obszarze rekonstruowanego obrazu 3D,
  • jednoczesne wyświetlanie przykładowych wyników, zarówno przed, jak  i po przetwarzaniu, obok siebie w układzie raportu.