Elipsometr UVISEL PLUS to nowej generacji modułowy elipsometr spektralny  dedykowany do wyznaczania grubości oraz parametrów optycznych warstw i układów warstwowych o grubościach nano- i mikrometrycznych.
Zastosowane rozwiązania, wysoka czułość, dokładność oraz powtarzalność czynią z UVISEL PLUS idealne narzędzie do badania nowych materiałów.

UVISEL PLUS cechują:
- Scanning Spectroscopic Phase Modulated Ellipsometer: 190-920nm
- Detekcja opart ana spektrometrach wyposażonych w PMT oraz detektor jednokanałowy (InGaAs dla zakresu NIR)
- Możliwość rozszerzenia o zakres NIR do 2100 nm
- Opcja pełnej automatyzacji (goniometr, stolik XY, etc)
- Możliwość zamontowania na komorze badawczej (flansza CF35 or KF40), możliwość prowadzenia badań in-situ i ex-sit
- Komputer wraz z oprogramowaniem Delta Psi2