Elipsometr UVISEL2 to nowej generacji elipsometr spektralny  dedykowany do wyznaczania grubości oraz parametrów optycznych warstw i układów warstwowych o grubościach nano- i mikrometrycznych.
Zastosowane rozwiązania, wysoka czułość, dokładność oraz powtarzalność czynią z UVISEL2 idealne narzędzie do badania nowych materiałów.

UVISEL2 cechują:
- Scanning Spectroscopic Phase Modulated Ellipsometer: 190-880nm
- Opatentowany system podglądy próbki wraz z miejscem padania wiązki sondującej widziane z perspektywy biegu wiązki sondującej
- Komputerowo kontrolowane achromatyczne mikrospoty – 8 ustawień wielkości plamki na próbce,
- Zmotoryzowany goniometr: zakres zmian kątów 35° - 90°
- Zmotoryzowany stolik o zakresie ruchu XY 200mm x 200mm oraz Z w zakresie do 40 mm.
- Zautomatyzowana korekta tilt położenia próbki
- Źródło światła 150W Xenon
- Detekcja oparta na spektrometrach wyposażonych w PMT oraz detektor jednokanałowy (InGaAs dla zakresu NIR)
- Możliwość rozszerzenia o zakres NIR do 2100 nm
- Komputer wraz z oprogramowaniem Delta Psi2
- Automatyczna kalibracja, autodiagostyka urządzenia