Skaningowy mikroskop elektronowy o ultra wysokiej rozdzielczości SU8600

SU8600 wprowadza nową erę skaningowych mikroskopów elektronowych o ultra-wysokiej rozdzielczości z zimną emisją polową. Ta rewolucyjna platforma CFE-SEM zawiera wielopłaszczyznowe obrazowanie, automatyzację, zwiększoną stabilność systemu, efektywną wydajność pracy dla użytkowników o różnym poziomie doświadczenia i wiele więcej.

Cechy:

• Ultra wysoka rozdzielczość – Źródło zimnej emisji polowej o wysokiej jasności firmy Hitachi zapewnia obrazy o ultra wysokiej rozdzielczości nawet przy bardzo niskich napięciach (powiększenie X200k przy napięciu 0.80kV),
• Inteligentny system detekcji do obrazowania BSE przy niskim napięciu,
• Szybkie obrazowanie BSE: nowy kryształ typu Out-Column BSED (OCD) – detektor scyntylacyjny lub półprzewodnikowy,
• Poprawione doświadczenie z użytkowania dzięki zaawansowanej automatyzacji – Opcja oprogramowania "EM Flow Creator" pozwala użytkownikom konfigurować powtarzalne sekwencje operacji SEM. Różne funkcje SEM mogą być umieszczone w oknie programu EM Flow Creator metodą "przeciągnij i upuść", a następnie zapisywane jako procedura do późniejszego wykorzystania. Po skonfigurowaniu sekwencji pomiaru, automatyczne zbieranie danych w zadanych warunkach może być wykonywane z dużą dokładnością i powtarzalnością,
• Elastyczny interfejs – Konfiguracja dwóch monitorów wspiera elastyczne i wysoce wydajne miejsce pracy. Pozwala na wyświetlanie i zapisywanie 6 sygnałów jednocześnie, aby pozyskać więcej informacji w krótszym czasie. Na jednym monitorze można jednocześnie wyświetlać 1, 2, 4 lub 6 sygnałów, w tym widok całej komory lub SEM MAP. Konfiguracja z dwoma monitorami wspiera zwiększoną wydajność oraz rozszerza przestrzeń roboczą i pozwala na dostosowanie panelu operacyjnego z podmenu umieszczonymi w dowolnym miejscu na obu ekranach,
• Duża śluza załadowcza – możliwość umieszczenie w mikroskopie próbek o średnicy φ150 mm lub większych,
• Kompatybilność z uchwytem Air Protection – możliwość wykonania frezowania jonowego w systemach Hitachi IM4000II i przeniesienia próbki bezpośrednio do mikroskopu bez ekspozycji na środowisko zewnętrzne,
• Duża liczba portów EDS - możliwość przyłączenia do 5 detektorów.

Więcej informacji można znaleźć na stronie producenta.