Firma Hitachi High –Technologies przedstawia Państwu najnowsze urządzenie stworzone do polerowania jonowego i wykonywania przekrojów – ArBlade 5000.

System ArBalde 5000 wyposażony jest w technologię PLUS II Ion Gun – najnowocześniejsze działo jonowe osiągające prędkość wykonywania przekrojów do 1mm/h (dla Si), co stanowi ponad trzykrotnie większą wartość w porównaniu do IM4000. ArBlade 5000 umożliwia więc tworzenie przekrojów w zdecydowanie krótszym czasie, także w odniesieniu do materiałów twardych, takich jak ceramika czy metale i ich stopy.

Ponadto, urządzenie zapewnia szerokość trawienia w obrębie 8mm, co wyróżnia je na tle wszystkich, dostępnych obecnie na rynku systemów jonowych. Ulepszona funkcjonalność obejmuje nie tylko imponujące parametry, ale również komfort użytkowania, dzięki zastosowaniu panelu dotykowego LCD do jego obsługi.

W przeciwieństwie do polerowania mechanicznego, systemy oparte o technologię napromieniowanie materiałów wiązką jonów pozwalają uniknąć deformacji struktury badanych próbek oraz minimalizują ryzyko powstania naprężeń mechanicznych. W rezultacie, znalazły one szerokie zastosowanie nie tylko w skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM), ale również mikroskopii sondy skaningowej i atomowej (SPM/AFM).